凝聚态物理 > 材料科学
[提交于 2024年11月30日
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标题: p型掺杂在TeO2中是否可行?
标题: Is p-type doping in TeO2 feasible?
摘要: 宽禁带二维(2D)β-TeO2被报道为一种高迁移率的p型透明半导体(Nat. Electron. 2021, 4, 277-283),引起了广泛关注。这一“突破”不仅挑战了传统上将TeO2视为绝缘体的表征,也与通过现有化学趋势预期的TeO2空穴掺杂困难相矛盾。值得注意的是,报道的费米能级位于价带最大值(VBM)以上0.9 eV,实际上表明该材料是绝缘体,这与通过霍尔效应测量获得的高空穴浓度相矛盾。此外,检测到的残留硒和二维β-TeO2样品中可能的还原元素碲引入了复杂性,因为元素硒、碲以及Te1-xSex本身都是高迁移率的p型半导体。因此,关于在二维β-TeO2样品中观察到的p型导电性的真正原因产生了疑问。在本工作中,我们采用密度泛函理论计算来说明无论是在α-、β-或γ-TeO2的块体形式,还是在二维β-TeO2中,TeO2本质上表现出绝缘特性,并由于其浅导带最小值和深价带最大值(VBM)而在载流子掺杂方面存在困难。我们的发现揭示了TeO2的绝缘电性能和掺杂难度,与二维β-TeO2样品中声称的p型导电性形成对比,引发了对p型导电性真正来源的质疑。
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