天体物理学 > 太阳与恒星天体物理学
[提交于 2010年3月6日
]
标题: 低质量恒星形成嵌入阶段的寿命和包层消散率
标题: Lifetime of the embedded phase of low-mass star formation and the envelope depletion rates
摘要: 受可观测的恒星形成嵌入阶段寿命分散性较大的启发,我们利用大量云核引力塌缩的数值流体力学模拟研究了上质量棕矮星和低质量恒星的 Class 0 和 Class I 阶段的持续时间。我们解析了恒星/盘/包层系统的形成,并将数值模拟扩展到晚期吸积阶段,此时包层几乎完全耗尽物质。我们采用了 Andre 等人的分类方案,并基于包层中剩余的质量计算了 Class 0 和 Class I 阶段的寿命(分别记为\tau _C0 和\tau _CI)。当考虑具有不同旋转速率、质量和大小但其他条件相同的云核时,我们的建模揭示了 Class 0 阶段的寿命与恒星质量之间存在次线性关系,最小二乘拟合指数 m = 0.8 \pm 0.05。Class I 阶段寿命与恒星质量之间的对应关系为超线性关系,指数 m = 1.2 \pm 0.05。如果考虑更广泛的云核样本,包括初始气体温度、云核截断半径、密度增强幅度、初始气体密度和角速度剖面以及磁场可能的变化,则相应的指数可能会减少多达 0.3。在大多数模型中发现 Class I 阶段的持续时间比 Class 0 阶段长,平均比值 \tau _CI / \tau _C0 \approx 1.5--2。 一个显著的例外是形成于初始密度增强较大的云核中的原恒星(YSOs),在这种情况下,\tau _C0 可能大于\tau _CI。 此外,具有冻结磁场和高旋转速率的大质量云核(≥1.0 倍太阳质量)可能具有\tau _CI /\tau _C0 的比率高达 3.0-4.0。 (摘要)。
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