电气工程与系统科学 > 信号处理
[提交于 2022年12月1日
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标题: 通过混合数据增强和深度度量学习的少样本特定发射机识别
标题: Few-Shot Specific Emitter Identification via Hybrid Data Augmentation and Deep Metric Learning
摘要: 特定发射机识别(SEI)是一种潜在的物理层认证技术,它是上层认证最重要的补充之一。 基于射频指纹(RFF)的SEI旨在通过电子组件的不变射频特性来区分不同的发射机。 由于深度学习(DL)具有强大的提取隐藏特征和执行分类的能力,它可以从前大量信号样本中提取高度可分离的特征,从而实现SEI。 考虑到训练样本有限的条件,我们提出了一种基于混合数据增强和深度度量学习(HDA-DML)的新颖的少样本SEI(FS-SEI)方法,该方法摆脱了对辅助数据集的依赖。 具体来说, 设计了包含旋转和CutMix的HDA以增加数据多样性,并使用DML提取高判别语义特征。 所提出的基于HDA-DML的FS-SEI方法在一个开源的大规模真实世界的自动相关监视广播(ADS-B)数据集和一个真实世界的WiFi数据集上进行了评估。 两个数据集的仿真结果显示,所提出的方法比五种最新的FS-SEI方法实现了更好的识别性能和更高的特征判别能力。
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