凝聚态物理 > 中尺度与纳米尺度物理
[提交于 2024年11月20日
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标题: 剪切抗性拓扑结构在准一维范德华材料Bi$_4$Br$_4$
标题: Shear-resistant topology in quasi one-dimensional van der Waals material Bi$_4$Br$_4$
摘要: Bi$_4$Br$_4$是一种典型的准一维(1D)材料,其中共价键结合的溴化铋链以平行、并排和层状的方式排列,在它们之间存在范德华(vdW)间隙。 到目前为止,该化合物已报道了两种不同的结构,$\alpha$-Bi$_4$Br$_4$和$\beta$-Bi$_4$Br$_4$,在两种结构中,相邻链均沿平面方向移动了$\mathbf{b}/2$,即半个晶胞矢量,但它们的垂直堆叠方式不同。 虽然已知不同的层排列会导致不同的电子性质,但原子链之间可能的面内位移的影响仍然是一个开放问题。 在此,利用扫描隧道显微镜和谱学(STM/STS),我们报告一种新的Bi$_4$Br$_4$(001)结构,在平面内相邻链之间存在$\mathbf{b}/3$的位移以及AB层堆叠。 我们确定剪切应变是这种新结构的起因,由于链间结合较弱,剪切应变可以很容易导致相邻原子链的位移。 对于观察到的$b/3$结构,(残留)原子链位移对应于面内剪切应变为$\gamma\approx7.5\%$。 STS显示出体绝缘能隙和表面台阶处的金属边缘态,表明这种新结构也是一种高阶拓扑绝缘体,与$\alpha$-Bi$_4$Br$_4$一致,符合密度泛函理论(DFT)计算的结果。
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