天体物理学
[提交于 2005年4月1日
]
标题: 利用发射线多重线研究精细结构常数的变化
标题: Studying the Variation of the Fine Structure Constant Using Emission Line Multiplets
摘要: 作为Bahcall等人(2004年)方法的扩展,用于研究精细结构常数的时间依赖性,我们描述了一种基于不同离子禁线多重态新观测的方法。我们从低红移范围0.035 < z < 0.281的14个塞弗特1.5型星系样本中获得[Ne III]、[Ne V]、[O III]、[OI]和[SII]多重态精细结构跃迁的光学光谱。每个源和每个多重态都独立分析以确定可能的误差。通过对样本取平均值,我们得到保守的结果α^2(t)/\alpha ^2(0) = 1.0030±0.0014。然而,由于我们的样本规模有限且拟合技术较为简单,主要目的是展示发射线研究精细结构常数时间变化的范围和优势。这种方法可以进一步扩展和推广为类似于吸收线方法的“多多重发射线方法”。为此,我们注意到所选离子发射线比值的理论限制是精确已知的,并提供了严格的选取标准。我们还讨论了其他一些禁线和允许线,这些线可能构成下一代8米级望远镜高分辨率仪器更严格研究的基础。
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