天体物理学
[提交于 2005年9月13日
]
标题: HII区域的裂隙观测和经验计算
标题: Slit Observations and Empirical Calculations for HII Regions
摘要: 在分析电离氢区(HII区)时,系统误差的一个可能来源是用于观测的狭缝尺寸有限,这会对经验推导出的物理量产生影响。 通过Aangaba代码构建了一组光致电离模型,该模型改变了由恒星团簇发射的电离辐射谱以及气体丰度。 然后使用计算出的谱线面亮度来模拟狭缝观测,并利用文献中描述的常用方法推导经验参数。 根据狭缝覆盖物体的比例,这些参数可能与从整个物体观测得到的参数不同,这种效应主要取决于电离恒星团簇的年龄。 低电离禁戒线比高电离禁戒线或再结合线对狭缝覆盖区域的大小更为敏感。 至于温度指示剂T[OIII],狭缝效应较小,因为该温度是从[OIII]线推导出来的。 另一方面,对于依赖于[OII]线的丰度指示剂R23,狭缝效应略高。 因此,由于狭缝观测引起的氧丰度系统误差较低,通常小于10%,但当电离光子数量相对较少(13.6到54.4电子伏特之间)的恒星团簇驱动的HII区会形成较小的O++发射体积时除外。 在这种情况下,当覆盖面积小于50%时,从狭缝观测推导出的经验氧丰度的系统误差将超过10%。
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