高能物理 - 现象学
[提交于 1996年8月30日
(此版本)
, 最新版本 1996年11月20日 (v4)
]
标题: SM和MSSM对电弱精确数据的更新全局拟合
标题: Updated Global Fits of the SM and MSSM to Electroweak Precision Data
摘要: 具有轻量级顶夸克、带电微子或赝标希格斯玻色子的最小超对称标准模型(MSSM)被认为可以解释$Z^0$玻色子衰变为$b$夸克的分支比过高问题($R_b$异常)。 一个包括所有辐射修正的程序,其在MSSM中的精度与标准模型(SM)的辐射修正相同,已被开发并用于对LEP、SLC和Tevatron的所有弱电数据以及CLEO的辐射b->sgamma衰变进行全局拟合。 最近在1996年夏季华沙会议上提出的弱电数据更新,将R_b异常从3.2\sigma 降低到1.8\sigma ,这使得标准模型中的概率从8%提高到24%。 尽管MSSM可以完全解释R_b与标准模型值之间的剩余偏差,但由于自由参数数量更多,其概率并不更好。 在{MS}色规范方案中,M_Z 标度下强耦合常数的最佳拟合值为 SM 的 0.120\pm 0.003 和 MSSM 的 0.116\pm 0.005 (0.119\pm 0.005),对应 tan beta 的低(高)值。 导出量\sin ^2\theta _{微软}等于 0.2317\pm 0.0004 (0.2315\pm 0.0004) 对于 SM (MSSM)。
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