物理学 > 应用物理
[提交于 2024年11月26日
]
标题: 一种制备与CMOS后端工艺兼容的固态纳米孔器件的方法
标题: A Method for Fabricating CMOS Back-End-of-Line-Compatible Solid-State Nanopore Devices
摘要: 固态纳米孔,即在薄的自支撑膜上的纳米级孔洞,是强大的单分子传感器,能够检测从小型分子到大聚合物的各种目标分析物。有趣的是,由于其高空间分辨率,纳米孔还可以识别长聚合物上的标记,使其成为分子信息存储策略中读取元件的有吸引力的选择。然而,为了充分利用固态纳米孔的紧凑和坚固特性,它们需要以高度并行的方式封装,并具备片上电子信号处理能力,以快速且准确地处理生成的数据。此外,膜本身必须具有特定的物理、化学和电学特性,以确保达到足够的信噪比,传统膜材料为SiNx。不幸的是,典型的沉积方法,低压蒸气沉积,需要的温度超过了CMOS后端工艺的热预算,限制了生成片上解决方案的潜力。为此,我们探索了各种低温沉积技术,这些技术与BEOL兼容,用于生成用于固态纳米孔的SiNx膜,并成功展示了这些替代方法生成低噪声纳米孔的能力,这些纳米孔能够进行单分子实验。
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