凝聚态物理 > 材料科学
[提交于 2025年2月8日
]
标题: 基于镍掺杂ZnO/p-Si异质结的自供电光电探测器材料的制备
标题: Fabrication of self-powered photodetector materials based on Ni-doped ZnO/p-Si heterojunctions
摘要: 在本文中,Ni掺杂的ZnO薄膜通过喷雾热解法生长在p型硅基底上。通过调整乙酸锌二水合物(ZAD)和氯化镍六水合物(NCH)之间的重量比来改变Ni掺杂浓度,从而得到ZnO、ZnO:Ni1%和ZnO:Ni3%样品。场效应扫描电子显微镜(FESEM)图像显示,Ni掺杂显著将纳米结构尺寸从326 nm(ZnO)减少到146 nm(ZnO:Ni3%)。同样,X射线衍射(XRD)分析也显示随着Ni掺杂的增加,晶体粒径减小,从44 nm(ZnO)减小到35 nm(ZnO:Ni3%)。在偏置电压为0 V和5 V下进行了电流-电压(I-V)测量,以检查电学和自供电光电检测特性。所有样品均表现出自供电光电探测器性能。在0 V偏置下,未掺杂的ZnO的光暗电流比(162)高于ZnO:Ni1%(18)和ZnO:Ni3%(16)。与纯ZnO(上升时间为10.8 s,下降时间为9.1 s)相比,ZnO:Ni3%样品的上升时间(0.4 s)和下降时间(1.7 s)更快,突显了其在需要快速光电响应的应用中的潜力。这些发现为通过控制Ni掺杂优化基于ZnO的光电探测器性能提供了有价值的见解,有助于推动用于节能光电设备的自供电光电检测技术的发展。
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