凝聚态物理 > 材料科学
[提交于 2025年4月15日
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标题: WO3-x纳米结构的异常气体传感器响应和半导体到绝缘体转变:氧空位的作用
标题: Unusual gas sensor response and semiconductor-to-insulator transition in WO3-x nanostructures : The role of oxygen vacancy
摘要: 三氧化钨-x薄膜在受控氧分压下通过热丝化学气相沉积法生长,具有花瓣状和层状纳米结构。这些合成的三氧化钨-x纳米结构经X射线衍射和拉曼光谱分别证实具有单斜晶体结构,并含有大量氧空位(VO)。这些三氧化钨-x纳米结构在室温下对氨气和二氧化氮气体表现出传感器响应。然而,传感器响应随温度和分析气体类型而变化。对于氨气,传感器在低于150 0C的温度下表现出电阻增加,类似于p型半导体,而在较高温度下电阻降低,类似于n型半导体行为。另一方面,在低于150 0C时,这些传感器对二氧化氮表现出n型行为,但在较高温度下则像p型半导体。在通过在甲烷气氛下退火引入额外氧空位后,对这些三氧化钨-x纳米结构进行了25至300 oC温度范围内的温度依赖性输运研究。花瓣状三氧化钨-x纳米结构在100 - 212 0C温度范围内,在加热和冷却循环中分别显示出电阻的突然变化,表明绝缘体到半导体和半导体到绝缘体的转变。在层状三氧化钨-x纳米结构中,电阻在300 0C时从半导体到绝缘体发生翻转,并在冷却至30 0C时保持绝缘状态。三氧化钨-x纳米结构中的氧空位解释了异常的气体传感行为和绝缘体-半导体转变。
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