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[提交于 2025年5月5日
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标题: 纠正纳米孔测序读段中的多次替换错误
标题: Correcting Multiple Substitutions in Nanopore-Sequencing Reads
摘要: 尽管与竞争技术相比,纳米孔测序仪具有显著优势,但由于纳米孔的物理特性和生物过程固有的噪声,它们面临着高错误率的问题。 因此,不仅制定高效的纠错构造对于这些信道至关重要,而且建立此类编码方案所需的最小冗余度界限也是必不可少的。 在此背景下,我们采用了一种简化的纳米孔测序模型,该模型受到毛的启发\emph{等}的工作,考虑了符号间干扰和测量噪声的影响。 对于长度为$n$的输入序列,生成的向量,称为 \emph{读取向量},可能还会遭受最多\(t\)次替换错误。 我们使用著名的图论 clique 覆盖技术来证明至少需要\(t\log n -O(1)\)位冗余才能纠正多次(\(t \geq 2\))替换。 虽然这与单次替换的情况相比令人惊讶,后者最多需要\(\log \log n - O(1)\)位冗余,但根据读取向量的特性,立即可以得到一个最优到常数因子的纠错码。
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