数学 > 组合数学
[提交于 2025年5月6日
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标题: 关于随机图上拓扑和谱指数的分布
标题: On the distribution of topological and spectral indices on random graphs
摘要: 我们针对在广泛的连通性状态下随机图$G=(V,E)$上的拓扑和谱指数分布进行了详细统计研究。 首先,我们考虑基于度数的拓扑指标(TI),并重点关注两类:$X_\Sigma(G) = \sum_{uv \in E} f(d_u,d_v)$和$X_\Pi(G) = \prod_{uv \in E} g(d_u,d_v)$,其中$uv$表示连接顶点$u$和$v$的$G$的边,$d_u$是顶点$u$的度数,并且$f(x,y)$和$g(x,y)$是顶点度数的函数。 具体来说,我们在Erdős-Rényi图和随机几何图上应用了$X_\Sigma(G)$和$X_\Pi(G)$,涵盖了从几乎孤立的顶点到主要连通图的整个转变过程。 我们验证了$P(X_\Sigma(G))$收敛于标准正态分布,同时证明了$P( X_\Pi(G))$收敛于对数正态分布。 此外,我们还分析了基于Revan度的指标和谱指标(这些指标由图邻接矩阵的特征值和特征向量定义)。 事实上,对于基于Revan度的指标,我们得到了与基于标准度的拓扑指标等效的结果。 相反,对于谱指标,我们报告了两种不同的模式:仅由特征值定义的指标的分布接近正态分布,而涉及特征值和特征向量的指标的分布则接近对数正态分布。
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