物理学 > 仪器与探测器
[提交于 2013年12月2日
]
标题: 通过暗电流测量的像素化盖革模式雪崩光电二极管特性分析
标题: Pixelated Geiger-Mode Avalanche Photo-Diode Characterization through Dark Current Measurement
摘要: 基于盖革模式雪崩光电二极管(PPD),通常称为硅光电倍增管(SiPM)的像素化探测器,正成为传统光电倍增管(PMT)在各类探测器中的优秀替代品,特别是在需要子原子物理实验的探测器中,这些实验需要广泛的测试和操作程序以确保所有设备具有均匀响应。 本文展示了对于两个PPD品牌,滨松MPPC和SensL SPM,暗噪声率、击穿电压以及相关雪崩率可以从暗电流随工作电压变化的单一测量中推断出来,从而大大简化了表征过程。 我们引入了一种自定义电子系统,该系统允许同时测量多个设备,从而以低成本快速测试和监控大量设备。 最后,我们表明在恒定工作电压下,滨松多像素光子计数器(MPPC)的暗电流对温度变化相当不敏感,因此无法用于探测温度变化。另一方面,在直流模式下,只要集成光源亮度与暗噪声率相当,MPPC电流可以用来监测光源条件,而不需要很强的温度稳定性。
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