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物理学 > 仪器与探测器

arXiv:1801.00533 (physics)
[提交于 2018年1月2日 (v1) ,最后修订 2018年1月9日 (此版本, v2)]

标题: 基于THGEM的粒子探测器中充电过程的测量

标题: Measurements of charging-up processes in THGEM-based particle detectors

Authors:M. Pitt, P. M. M. Correia, S. Bressler, A. E. C. Coimbra, D. Shaked Renous, C. D. R. Azevedo, J. F. C. A. Veloso, A. Breskin
摘要: 检测器中包含厚气体电子倍增电极(THGEM)的随时间变化的增益变化在电极绝缘表面充电过程的背景下进行了研究。 在各种实验条件下,进行了一项实验研究以检验上述现象的模型模拟结果。 结果表明,在稳定的检测器环境中,增益稳定过程主要受检测器绝缘表面由于雪崩电荷引起的充电影响。 充电是一个瞬态效应,发生在检测器的初始运行期间;它不会影响其长期运行。 实验结果与模型模拟的结果一致。
摘要: The time-dependent gain variation of detectors incorporating Thick Gas Electron Multipliers (THGEM) electrodes was studied in the context of charging-up processes of the electrode's insulating surfaces. An experimental study was performed to examine model-simulation results of the aforementioned phenomena, under various experimental conditions. The results indicate that in a stable detector's environment, the gain stabilization process is mainly affected by the charging-up of the detector's insulating surfaces caused by the avalanche charges. The charging-up is a transient effect, occurring during the detector's initial operation period; it does not affect its long-term operation. The experimental results are consistent with the outcome of model-simulations.
主题: 仪器与探测器 (physics.ins-det) ; 高能物理 - 实验 (hep-ex)
引用方式: arXiv:1801.00533 [physics.ins-det]
  (或者 arXiv:1801.00533v2 [physics.ins-det] 对于此版本)
  https://doi.org/10.48550/arXiv.1801.00533
通过 DataCite 发表的 arXiv DOI
相关 DOI: https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/03/P03009
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来自: Michael Pitt [查看电子邮件]
[v1] 星期二, 2018 年 1 月 2 日 01:15:57 UTC (722 KB)
[v2] 星期二, 2018 年 1 月 9 日 09:28:56 UTC (722 KB)
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