物理学 > 应用物理
[提交于 2025年1月9日
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标题: InSb/CdTe 异质结构界面增强热电子散射的局部检测
标题: Local Detection of Enhanced Hot Electron Scattering in InSb/CdTe Heterostructure Interface
摘要: InSb/CdTe异质结结构,具有低有效质量和高电子迁移率,表现出界面能带弯曲,导致Rashba自旋-轨道耦合效应和非互易输运,这使其适用于在逻辑和存储领域有广泛应用的自旋电子器件。 然而,由III-V族和II-VI族半导体组成的InSb/CdTe复杂异质结界面容易发生互扩散。 因此,对InSb/CdTe异质结界面特性的表征和研究对于改善InSb/CdTe材料体系的生长及其在自旋电子学领域的应用至关重要。 在本研究中,一种称为扫描噪声显微镜的新颖扫描探针显微镜被用于可视化InSb/CdTe纳米器件中的热电子散射。 结果表明,近场信号来源于嵌入层异质结界面处带电离子对电子的库仑散射。 这种实空间、无损的异质结界面特性表征为提高异质结性能提供了新工具。
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