物理学 > 光学
[提交于 2025年7月17日
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标题: 半导体光放大器的相位噪声测量
标题: Phase noise measurement of semiconductor optical amplifiers
摘要: 我们介绍了一种用于测量光学放大器相位噪声的新测量方法,其拓扑结构类似于外差马赫-曾德尔干涉仪,但遵循不同的原理,并报告了在1.55 $\mu\mathrm{m}$ 波长下对光纤放大器的测量结果。 被测放大器(DUT)插入对称马赫-曾德尔干涉仪的一条臂中,另一条臂中有声光调制器(AOM)。 我们测量了在马赫-曾德尔输出处检测到的射频拍频的相位噪声。 放大器的相位噪声底噪随放大器输入激光功率的倒数成比例下降,最低达到 $-125$ $\mathrm{dBrad^2/Hz}$ 在 $f=100$$\mathrm{kHz}$。 由于被测放大器的闪烁噪声低于系统的背景噪声,因此无法测量。 这设定了放大器噪声在$-32$ $\mathrm{dBrad^2/Hz}$ 处的上限为$f=1$ $\mathrm{Hz}$ ,这对应于频率稳定性为$5.2{\times}10^{-17}/\tau$(Allan偏差),其中$\tau$是积分时间。 这种噪声水平低于大多数Fabry-Perot腔稳定激光器的噪声水平。 这些结果在计量学、仪器仪表、光通信或光纤链路等广泛应用领域具有重要意义。
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